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        EUV與真空:半導體光刻工藝中不可或缺的真空系統

        2024-09-11 09:30:34 LH 2757

        以下文章來源于真空聚焦 ,作者真空聚焦

        我們都知道,半導體芯片產業鏈分為IC設計、IC制造、IC封測三大環節。光刻的主要作用是將掩模版上的芯片電路圖轉移到硅片上,是IC制造的核心環節,也是整個IC制造中最復雜、最關鍵的工藝步驟。 

        芯片在生產過程中一般需要進行20~30次光刻,耗費時間約占整個硅片工藝的40~60%,成本極高,約為整個硅片制造工藝的1/3。 

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        ▲ 通過激光或電子束直接寫在光掩模板上,然后用激光輻照光掩模板,晶圓上的光敏物質因感光而發生材料性質的改變,通過顯影,便完成了芯片從設計版圖到硅片的轉移。

        一般的光刻工藝要經歷硅片表面清洗烘干、涂底、旋涂膠、軟烘、對準曝光、后烘、顯影、硬烘、刻蝕、檢測等工序。

        而 DUV / EUV 則是光刻工藝的核心設備,也是所有半導體制造設備中技術含量最高的設備,集合了數學、光學、流體力學、高分子物理與化學、表面物理與化學、精密儀器、機械、自動化、軟件、圖像識別領域等多項頂尖技術。光刻的工藝水平直接決定芯片的制程和性能水平,DUV / EUV 也被譽為半導體工業皇冠上的明珠

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        作為現今世界上最尖端的技術之一,DUV / EUV 只有極少數國家掌握其技術核心。目前世界上最好的設備來自荷蘭的 ASML 

        根據所用光源改進和工藝創新,DUV / EUV 經歷了5代產品發展,每次光源的改進都顯著提升了其所能實現的最小工藝節點。在技術節點的更新上,DUV / EUV 經歷了兩次重大變革,在歷次變革中,ASML 都能搶占先機,最終奠定龍頭地位。 

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        ▲ ASML Twinscan 簡易工作原理圖:在IC制作過程中,光束穿過掩模及鏡片,經物鏡補償光學誤差,將線路圖曝光在帶有光感涂層的硅晶圓上,然后顯影在硅片上。激光器作為光源,物鏡補償光學誤差,是設備的核心設備,其中物鏡系統一般由近20個直徑為200~300mm的透鏡組成。

        TWINSCAN NXT:2000i DUV(雙工作臺深紫外)是 ASML 最先進的浸沒式光刻系統 ,是 EUV 前的重要過渡產品,也是后期7nm/5nm產能的重要補充。

        在2023年12月份,ASML 對外宣布,已經正式交付了首臺 2nm EUV 。據悉,每臺新機器的成本超過3億美元,體積有一整個卡車車箱大小。

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        頂級的 EUV(極紫外)有10萬個零部件,其中包括主要的四大件雙工件臺、光學系統、控制軟件、物鏡系統

        與 DUV(深紫外)不同,EUV 必須在真空條件下操作。這是因為兩者的光路系統及光源不同。DUV 光路主要利用光的折射原理,EUV 則是利用的光的反射原理;DUV 使用193nm波長的紫外光源,而 EUV 則以波長為10-14nm極紫外光作為光源。

        極紫外光極易被介質吸收,在空氣中容易損耗,只有真空才能最大程度保證光源能量不被損失。真空環境可以減少空氣流動波和空氣折射率引入的測量差。對于 EUV 來說,需要使用精密反射光學器件和整個光束路徑的真空密封。

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        所以,EUV 的生產也需要專屬真空解決方案。以全球半導體行業真空解決方案供應商 Edwards 為例,Edwards 在2021年發布的“Understanding the integrated vacuum challenges of HVM EUV Lithography說明:過去11年中,已經發出超過120個 EUV 專用真空系統,并且完成安裝70多個 EUV 集成真空系統

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         TechInsights 發布2023年十大半導體設備商的排名,Edwards 與 ASML 一同上榜,位列第四。


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        另外,真空系統也會應用于對 EUV 的氫氣回收。

        在 EUV 工作過程中,需要使大量的氫氣作為氣氛氣體流動,以防止錫氧化。同時,氫氣也可以防止顆粒污染物沉積在反射透鏡的表面上,確保關鍵光學器件不受污染

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        ▲ EUV 工作過程示意圖:① CO2激光脈沖被放大到高功率,輸出超過30kW平均脈沖功率的激光數,其脈沖峰值功率可高達幾兆瓦;②③ 不斷滴下的錫珠被激光束擊中成為一個發光的等離子體,發射出波長為 13.5nm 的極紫外光;④⑤:極紫外光聚焦后,通過反射透鏡首先傳輸到掩模上,然后照射到晶圓基片上。

        由于氫氣在空氣中易燃,因此引起了人們對安全和環境的高度關注。所以 EUV 真空系統中不僅有專為 EUV 工藝設計的真空泵,還需要裝配氫氣回收系統(HRS),以回收和再利用大部分(至少 70%)的氫氣,減少 EUV 運作時的能源消耗。


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        除了上述 EUV 設備內部需要真空環境外,其所需的光學配件在制備過程中也需要真空技術。比如 EUV 反射鏡的多層反射層,就需要高精密的真空鍍膜機。下圖中的 NESSY series 就是生產X射線或 EUV 光譜范圍內反射鏡的理想設備,其所需真空度< 9×10-7 Pa

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         NESSY 系統構造:1:Heated load lock 加熱負載鎖;2. Handling for loading/unloading 裝卸裝置;3:Planetary substrate drive with sub-rotation and speed profiles 行星基板;4:Chamber lid for ease in service  維修腔體;5:Magnetron-sputtering cathodes PK 600 磁控濺射陰極PK 600;6:Adjustable sputter distance 可調濺射距離;7:Cryo pump 低溫真空泵;8:Dry pre-vacuum pump set 干式前級真空泵組

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